Spectromètre à rayons X NEX DE VS

EDXRFXRFd'inspection

le nouveau Rigaku NEX DE VS, analyseur élémentaire EDXRF de paillasse à petites taches (variables) très performant, offre une large couverture élémentaire avec un logiciel QuantEZ basé sur Windows® facile à apprendre. L'analyse de petites taches, du sodium (Na) à l'uranium (U), de presque toutes les matrices - des solides, des couches minces et des alliages aux poudres, aux liquides, aux boues et aux couches minces. Analyse élémentaire XRF sur le terrain, en usine ou en laboratoire La puissance analytique supérieure, la flexibilité et la facilité d'utilisation du NEX DE ajoutent à son attrait pour une gamme toujours plus large d'applications, y compris l'exploration, la recherche, l'inspection RoHS en vrac et l'éducation, ainsi que les applications industrielles et de surveillance de la production. Qu'il s'agisse d'un contrôle de qualité de base (QC) ou de ses variantes plus sophistiquées - telles que le contrôle de qualité analytique (AQC), l'assurance qualité (QA) ou le contrôle de processus statistique comme Six Sigma - le NEX DE est le choix fiable et performant pour l'analyse élémentaire de routine par fluorescence X (XRF). Caractéristiques Analyse de ₁₁Na à ₉₂U de manière non destructive tailles de spot de 1, 3 et 10 mm, sélectionnables par logiciel Imagerie haute résolution pour un positionnement précis de l'échantillon Logiciel QuantEZ puissant basé sur Windows Solides, liquides, alliages, poudres et couches minces tube à rayons X de 60 kV pour une large couverture élémentaire Détecteur FAST SDD® pour des statistiques de comptage supérieures Plusieurs filtres de tube automatisés pour une sensibilité accrue Rapport performance/prix inégalé Logiciel de paramètres fondamentaux RPF-SQX en option Logiciel optionnel pour les paramètres fondamentaux sans standard