Microscopes électroniques à balayage TESCAN

Grossissement: 1 000 000 unit

... TESCAN Essence™, qui est au cœur de tous les instruments SEM et FIB-SEM de TESCAN. Un opérateur qui apprend sur le TESCAN VEGA Compact peut facilement faire la transition vers d'autres microscopes TESCAN ...

... Le microscope électronique à balayage (MEB) de 4e génération de TESCAN VEGA avec source d'électrons à filament de tungstène combine l'imagerie MEB et l'analyse en direct de la composition ...

... Le microscope électronique à balayage (MEB) de 4e génération de TESCAN MIRA avec source d'émission d'électrons FEG Schottky combine l'imagerie MEB et l'analyse en direct de la composition ...

... SEM UHR analytique sans champ pour la caractérisation des matériaux à l'échelle nanométrique Caractérisation sans compromis de tous les types de matériaux à l'échelle nanométrique Idéal pour la caractérisation des matériaux ...

... SEM UHR pour la caractérisation des nanomatériaux à l'échelle sub-nanométrique Imagerie à haute résolution et à fort contraste des matériaux de nouvelle génération (par exemple, structures de catalyseurs, nanotubes, ...

... débit et la facilité d'utilisation des microscopes sont d'une importance capitale pour les instruments utilisés dans les installations centrales et les centres d'imagerie. C'est pourquoi les microscopes ...