Microscopes Hitachi

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{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
microscope SEM
microscope SEM
SU9000

Résolution spatiale: 0,4 nm
Grossissement: 3 000 000 unit

... Microscope électronique à balayage à ultra-haute résolution SU9000 La source d'émission en champ froid est idéale pour l'imagerie haute résolution avec une petite taille de source et une faible dispersion d'énergie. La ...

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Hitachi High-Technologies
microscope optique
microscope optique
Regulus series

... En tant que nouvelle marque de FE-SEM, la gamme de la série Regulus comprend quatre modèles : le Regulus8100, le Regulus8220, le Regulus8230 et le Regulus8240, qui étendent tous les fonctions de la série SU8200 grâce à l'utilisation d'une ...

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Hitachi High-Technologies
microscope FA-STEM
microscope FA-STEM
SU5000

... Microscope électronique à balayage à émission de champ Schottky SU5000 Le FE-SEM analytique innovant permet une transition simple entre le mode sous vide poussé et le mode à pression variable. EM Wizard est un système ...

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Hitachi High-Technologies
microscope SEM
microscope SEM
SU3500

... notamment les échantillons biologiques et les matériaux de pointe, le SU3500 est à coup sûr le microscope le plus performant de tous les laboratoires. Le microscope électronique à balayage SU3500 est ...

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Hitachi High-Technologies
microscope SEM
microscope SEM
S-3700N

... maximale de 110 mm. Une platine motorisée à 5 axes rend la grande chambre idéale pour une grande variété d'échantillons. Le microscope électronique à balayage (MEB) s'étend aujourd'hui à un champ d'applications toujours ...

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Hitachi High-Technologies
microscope SEM
microscope SEM
TM3030Plus

... TM3030Plus permet d'améliorer la qualité des images dans le monde de l'observation sous vide. Le TM3030Plus est équipé d'un détecteur SE haut de gamme qui a été incorporé dans les MEB FE et VP, et bien accepté par les utilisateurs comme ...

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Hitachi High-Technologies
microscope électronique à transmission
microscope électronique à transmission
HF-3300

... porte-échantillons compatible Hitachi-FIB* ne nécessite aucune manipulation de pincettes des grilles TEM entre la fabrication des FIB et l'observation TEM et garantit une analyse TEM ...

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Hitachi High-Technologies
microscope STEM
microscope STEM
HD-2700

... Le HD-2700 est un microscope électronique à transmission à balayage (STEM) à canon à émission de champ de 80-200 kV avec capacité d'imagerie d'électrons secondaires (SE). Les structures de masse et de surface d'un spécimen ...

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Hitachi High-Technologies
microscope FIB-SEM
microscope FIB-SEM
NX9000

... sectionnement en série haute résolution afin de répondre aux dernières exigences en matière d'analyse structurelle 3D et d'analyses TEM et 3DAP. Le système FIB-SEM NX9000 permet la plus grande précision dans le traitement ...

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microscope FIB-SEM
microscope FIB-SEM
NX2000

... échantillons TEM Les systèmes FIB-SEM sont devenus un outil indispensable pour la caractérisation et l'analyse des dernières technologies et des matériaux à l'échelle nanométrique de haute performance. La demande sans ...

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