Microscopes électroniques à balayage

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Microscopes électroniques à balayage | Bien choisir un microscope
On distingue trois principaux types de microscopes : optiques, électroniques ou à sonde locale. Voici leurs différences : Les microscopes optiques : ils utilisent des lentilles optiques pour former l’image tout en contrôlant le faisceau lumineux pour éclairer l’échantillon. Plusieurs paramètres (type d’éclairage, polarisation, filtrage spectral, filtrage spatial) peuvent être modifiés pour avoir différentes techniques d'observation. Les microscopes...
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microscope optique
microscope optique
GeminiSEM series

Grossissement: 1 unit - 2 000 000 unit

... difficultés à une résolution sub-nanométrique. Ces FE-SEM (microscope électronique à balayage à émission de champ) excellent tant dans l'imagerie que dans l'analyse. Des innovations dans ...

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ZEISS Microscopy
microscope optique
microscope optique
LVEM5

... premier microscope électroniquede table combinant les modes d’imagerie TEM, SEM et STEM Le plus petit TEM au monde… Le LVEM 5 est un microscope électronique ...

microscope SEM
microscope SEM
VEGA

Grossissement: 1 000 000 unit

... TESCAN Essence™, qui est au cœur de tous les instruments SEM et FIB-SEM de TESCAN. Un opérateur qui apprend sur le TESCAN VEGA Compact peut facilement faire la transition vers d'autres microscopes TESCAN ...

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TESCAN GmbH
microscope optique
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VEGA

... Le microscope électronique à balayage (MEB) de 4e génération de TESCAN VEGA avec source d'électrons à filament de tungstène combine l'imagerie MEB et l'analyse en direct de la composition ...

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TESCAN GmbH
microscope optique
microscope optique
MIRA

... Le microscope électronique à balayage (MEB) de 4e génération de TESCAN MIRA avec source d'émission d'électrons FEG Schottky combine l'imagerie MEB et l'analyse en direct de la composition ...

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TESCAN GmbH
microscope à force atomique
microscope à force atomique

Grossissement: 25 unit - 200 000 unit
Poids: 330 kg
Longueur: 835 mm

... nanomètre à l'imagerie AFM et SEM d'un simple clic sur un bouton pour extraire les données souhaitées. Des cantilevers interchangeables permettent d'obtenir facilement des modes avancés, tels que l'AFM conducteur (C-AFM) ...

microscope FIB
microscope FIB
JIB-PS500i

Grossissement: 50 unit - 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 3 nm

... traitement des lames et l’imagerie STEM permettent une préparation efficace des échantillons. Préparation automatique Le JIB-PS500i intègre un système d’automatisation de préparation des lames minces ...

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Jeol
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage

Résolution spatiale: 0,1 nm

... Les microscopes électroniques appelés SEM (Scanning Electron Microscope) et TEM (Transmission Electron Microscope) ont le plus fort ...

microscope SEM
microscope SEM
SU9000

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,4 nm

... d'échantillonnage à entrée latérale ultra stable, similaire aux systèmes TEM haut de gamme, et intègre un amortissement optimisé des vibrations ainsi qu'une armoire fermée pour protéger l'optique électronique ...

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Hitachi High-Technologies
microscope SEM
microscope SEM
SEM

... abordables et faciles à utiliser était limité. Avec notre microscope électronique, vous êtes en mesure de visualiser à l'échelle submicronique et nanométrique. Notre microscope électronique ...

microscope optique
microscope optique
NPS

Résolution spatiale: 1,8, 2,6, 2,5, 4,6, 1 µm

quand la microscopie fusionne avec la métrologie Le NPS est un capteur confocal à lumière blanche combiné à une table motorisée de haute précision. Il permet de mesurer une altitude submicronique sur tout type de surface ...

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Hirox Europe
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