Microscopes d'électrons rétrodiffusés

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microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU8700

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,6 nm

... Équipé d'un sas d'échantillonnage de 150 mm en standard, le SU8700 offre un débit d'échantillonnage élevé, même pour les échantillons de grande taille, et un environnement de chambre d'échantillonnage constamment propre pour une imagerie à faible contamination ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope CFE-SEM
microscope CFE-SEM
SU8600

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm

... Le SU8600 est le successeur de la famille éprouvée de MEB à émission de champ Regulus et répond aux exigences les plus élevées pour les applications orientées vers l'imagerie. L'émetteur à champ froid, dont l'émission est presque monochromatique, associé ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,9 nm

... Le SU7000 est idéal pour les échantillons lourds ou de grande taille et pour l'intégration d'une large gamme d'accessoires. Ces accessoires comprennent des détecteurs analytiques ou des accessoires de scène pour la manipulation in situ des échantillons ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU3800/3900 Family

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... Caractéristiques du produit : - Détecteurs Hitachi à haute efficacité : -- Détecteur d' électrons secondaires pour le vide poussé -- Détecteur d' électrons rétrodiffusés à semi-conducteur à 5 segments ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
FlexSEM II

Grossissement: 6, 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4 nm

... FlexSEM II est un MEB de table / compact pour les tâches d'imagerie qui dépassent les performances des MEB de table conventionnels. C'est le système idéal pour tous ceux qui ne veulent pas investir dans un MEB classique, mais qui ne veulent pas non plus ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
TM4000PlusIII

Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Longueur: 617 mm

... de courant de sonde chacun - Caméra de navigation optique couleur - 3 étages de pression de chambre - détecteur d' électrons rétrodiffusés à 4 segments - Lecture du courant de la sonde et fonctionnalité IFT ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FIB-SEM
microscope FIB-SEM
NX2000

Résolution spatiale: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... Le NX2000 est un FIB-SEM optimisé pour les applications dans le domaine des semi-conducteurs (analyse des défauts avec importation de coordonnées KLARF, extraction de lamelles TEM, développement de dispositifs). Avec une course X,Y de 205 x 205 mm, la ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,9 nm

... électronique de conception nouvelle permet une acquisition simultanée efficace de plusieurs signaux d' électrons secondaires et d' électrons rétrodiffusés. Imagerie multicanaux Le nombre de détecteurs ...

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