Microscopes d'électrons secondaires

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,6 nm

... Équipé d'un sas d'échantillonnage de 150 mm en standard, le SU8700 offre un débit d'échantillonnage élevé, même pour les échantillons de grande taille, et un environnement de chambre d'échantillonnage constamment propre pour une imagerie à faible contamination ...

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,9 nm

... Le SU7000 est idéal pour les échantillons lourds ou de grande taille et pour l'intégration d'une large gamme d'accessoires. Ces accessoires comprennent des détecteurs analytiques ou des accessoires de scène pour la manipulation in situ des échantillons ...

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... Caractéristiques du produit : - Détecteurs Hitachi à haute efficacité : -- Détecteur d' électrons secondaires pour le vide poussé -- Détecteur d' électrons rétrodiffusés à semi-conducteur à 5 segments ...

Grossissement: 6, 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4 nm

... FlexSEM II est un MEB de table / compact pour les tâches d'imagerie qui dépassent les performances des MEB de table conventionnels. C'est le système idéal pour tous ceux qui ne veulent pas investir dans un MEB classique, mais qui ne veulent pas non plus ...

Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Longueur: 617 mm

... Conçu comme une extension logique de la stéréomicroscopie optique, le TM4000 III est un appareil d'entrée de gamme pour la microscopie électronique à balayage. Il vous permet d'imager des échantillons en un temps record avec une bonne ...

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm

... Correcteur de Cs STEM Hitachi, entièrement automatisé - Détecteur d' électrons secondaires pour la superposition d'informations sur la surface de l'échantillon en corrélation avec le signal des électrons ...

Résolution spatiale: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... Le NX2000 est un FIB-SEM optimisé pour les applications dans le domaine des semi-conducteurs (analyse des défauts avec importation de coordonnées KLARF, extraction de lamelles TEM, développement de dispositifs). Avec une course X,Y de 205 x 205 mm, la ...