Microscopes d'électrons secondaires HITACHI

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,6 nm

... Équipé d'un sas d'échantillonnage de 150 mm en standard, le SU8700 offre un débit d'échantillonnage élevé, même pour les échantillons de grande taille, et un environnement de chambre d'échantillonnage ...

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,9 nm

... universelle à haute résolution et sans champ d'Hitachi (composée d'un émetteur Schottky et d'un amplificateur de faisceau), le SU7000 dispose également d'une grande chambre d'échantillon ...

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... logiciel, d'une électronique et d'une plate-forme de détection communs. Caractéristiques du produit : - Détecteurs Hitachi à haute efficacité : -- Détecteur d'électrons secondaires ...

Grossissement: 6, 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4 nm

... l'imagerie STEM, la caméra de navigation optique couleur et le chamberscope - platine d'échantillonnage à 5 axes pour des échantillons d'un diamètre maximal de 153 mm et d'une hauteur maximale de 40 mm. ...

Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Longueur: 617 mm

... une extension logique de la stéréomicroscopie optique, le TM4000 III est un appareil d'entrée de gamme pour la microscopie électronique à balayage. Il vous permet d'imager des échantillons en un temps ...

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm

... Correcteur de Cs STEM Hitachi, entièrement automatisé - Détecteur d'électrons secondaires pour la superposition d'informations sur la surface de l'échantillon en corrélation avec le signal des électrons ...

Résolution spatiale: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... , la platine d'échantillonnage permet même le traitement de la surface complète de tranches de 200 mm sans rotation de l'échantillon. Le FIB Ga monté verticalement permet un courant ionique de 100nA à 30 kV. La colonne ...