Système d'inspection contrôlé par ordinateur AMI DF2400/FACTS2 C-SAM®

automatisécontrôlable par PCà grande vitesse

Présentation
FACTS² (AMI DF2400) est un système d'inspection C-SAM automatisé en ligne conçu pour la production en grand volume. Il combine inspection simultanée de deux plateaux/modules et architectures multi-têtes avec entraînements à moteur linéaire et équilibrage inertiel pour minimiser les vibrations et le mouvement des échantillons, assurant des acquisitions d'images très rapides.

Détails
Le système prend en charge les plateaux JEDEC et les porte-bateaux Auer dans un flux en ligne. Il accepte également les bandes de lead-frame, modules IGBT, MLCC, puces retournées et composants empaquetés similaires. La numérisation non-immersive avec le transducteur WaterFall réduit les risques de contamination et d'infiltration de fluide tout en permettant l'acquisition d'images rapides. Polygate et l'imagerie domaine temporel capturent plusieurs profondeurs pour l'analyse complète des défauts internes d'emballage.

Fonctionnalités

• Inspection automatisée en ligne avec balayage simultané de deux plateaux/modules pour haut débit
• Imagerie de précision avec une exactitude d'ordre ±0,5 µm
• Configurations multi-têtes pour augmenter le débit (amélioration 2×–7× selon configuration)
• Numérisation non-immersive WaterFall pour minimiser contamination, entrée de fluide et mouvement des pièces
• Package d'Analyse de Données automatisé pour critères d'acceptation/rejet et signalement automatique
• Option Vacuum Hold Down pour stabiliser les petites pièces durant la numérisation
• Chambre de séchage séparée avec jusqu'à quatre lames d'air oscillantes et chauffage en option
• Intégration usine via SECS-II / GEM (SEMI E30) et SMEMA

Fonctionnalités supplémentaires intégrées au FACTS² / DF2400

• Plate-forme Sonolytics (support Sonolytics pour Windows 7)
• Package d'Auto Data Analysis et outils de classification des défauts
• Configuration 2-scanners avec balayage de Region of Interest (ROI)
• Polygate : capture jusqu'à 100 profondeurs d'intérêt
• Imagerie domaine temporel et Auto Scan pour multiples emplacements
• Mise au point de précision pour extraction de couches fines

Applications typiques

• Inspection en ligne de composants empaquetés dans plateaux JEDEC et Auer Boats
• Vérification de lead-frames, modules IGBT, MLCC, flip chips et composants similaires
• Détection et catégorisation des défauts d'emballage internes : vides, décollements, délaminations et fissures

Intégration et données
Équipé de Sonolytics et d'une interface SECS-II / GEM (SEMI E30) pour le suivi électronique des données. Les données de lot sont accessibles sous forme d'images ou de fichiers d'analyse tabulés (feuilles de calcul, cartes de plateaux). Les critères d'acceptation/rejet et la catégorisation des défauts sont configurables selon les standards qualité du client.

Caractéristiques / spécifications techniques

• Modèle : AMI DF2400 (FACTS²)
• Mode d'inspection : numérisation C-SAM non-immersive utilisant le transducteur WaterFall
• Précision de scan : environ ±0,5 µm
• Débit : inspection simultanée de deux plateaux/modules ; amélioration 2×–7× vs outils antérieurs (dépend de la configuration)
• Têtes de scan : multi-têtes ; option 2-scanners avec ROI
• Profondeur : Polygate jusqu'à 100 profondeurs ; imagerie domaine temporel
• Maintien : option Vacuum Hold Down pour petites pièces
• Séchage : chambre séparée avec jusqu'à 4 lames d'air oscillantes et chauffage optionnel
• Support transporteurs : plateaux JEDEC, porte-bateaux Auer (configurable)
• Logiciel : Sonolytics (Windows 7 supporté), Package d'Auto Data Analysis
• Interfaces : SECS-II / GEM (SEMI E30), SMEMA
• Automatisation : Auto Scan multi-emplacements ; analyse acceptation/rejet automatisée et catégorisation des défauts
• Pièces cibles typiques : bandes lead-frame, modules IGBT, MLCC, flip chips et autres composants empaquetés