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microscope électronique à balayage à émission de champSU8700
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,6 nm
... Équipé d'un sas d'échantillonnage de 150 mm en standard, le SU8700 offre un débit d'échantillonnage élevé, même pour les échantillons de grande taille, et un environnement de chambre d'échantillonnage constamment propre pour une imagerie ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 6, 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4 nm
... FlexSEM II est un MEB de table / compact pour les tâches d'imagerie qui dépassent les performances des MEB de table conventionnels. C'est le système idéal pour tous ceux qui ne veulent pas investir dans un MEB classique, mais qui ne veulent ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Longueur: 617 mm
... Conçu comme une extension logique de la stéréomicroscopie optique, le TM4000 III est un appareil d'entrée de gamme pour la microscopie électronique à balayage. Il vous permet d'imager des échantillons en un temps record ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm
... Grâce au correcteur Cs, la surface peut être visualisée avec une résolution atomique. La commutation routinière et rapide entre TEM et STEM facilite le travail quotidien avec un correcteur Cs entièrement automatisé, même ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Résolution spatiale: 0,19, 0,14, 0,2 nm
... La famille HT7800 prend en charge un large éventail d'applications, des sciences de la vie à la science des matériaux. Elle est disponible en trois variantes de pièces polaires, toujours basées sur notre objectif breveté pour une commutation ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 5 unit - 600 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 2,5 nm
... personnalisables garantissent des résultats cohérents et de haute qualité avec un minimum de données, ce qui est idéal pour les laboratoires soucieux d'efficacité. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 0 unit
Résolution spatiale: 4, 60 nm
... "ETHOS" vise des applications avancées de précision de position dans les domaines de la production automatisée de lamelles TEM ultrafines pour TEM/STEM à correction d'aberration, de l'examen SEM multi-signaux à haute ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Résolution spatiale: 1,6, 2,1, 4 nm
... Dans ce système unique, les colonnes Ga-FIB et FE-SEM sont placées à angle droit l'une par rapport à l'autre. Cette configuration est idéale pour les applications où de grands volumes (tissus biologiques, matériaux avec de grandes structures ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Résolution spatiale: 2,8, 60, 4, 3,5 nm
... Le NX2000 est un FIB-SEM optimisé pour les applications dans le domaine des semi-conducteurs (analyse des défauts avec importation de coordonnées KLARF, extraction de lamelles TEM, développement de dispositifs). Avec une course X,Y de ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,4, 0,7 nm
... La source d'émission en champ froid est idéale pour l'imagerie à haute résolution, avec une taille de source et une répartition d'énergie réduites. La technologie innovante du canon CFE contribue à l'ultime FE-SEM avec une luminosité ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,8, 0,9 nm
... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plate-forme FE-SEM révolutionnaire intègre ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm
... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à très haute résolution dans la gamme Hitachi EM, déjà ancienne. Cette plateforme CFE-SEM révolutionnaire intègre l'imagerie ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm
... et à bien d'autres encore, en fournissant des informations améliorées pour des besoins diversifiés dans le domaine de la microscopie électronique. Découvrez le nanomonde avec le SU7000 ! *La photo de l'appareil montre ...
Hitachi High-Technologies
... connaissance qui va au-delà des conditions et des recettes prédéfinies de base. Sa facilité d'utilisation ouvre une nouvelle voie pour la recherche sur les matériaux, le développement et les domaines qui dépassent notre ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Poids: 54 kg
Largeur: 330 mm
... caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi de longue date (TM) intègre ...
Hitachi High-Technologies
Résolution spatiale: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm
... l'orientation de l'échantillon entièrement intégré pour l'effet anti-curtaining (technologie ACE) Préparation d'échantillons TEM pour des lamelles uniformes quelle que soit leur orientation 4. Capacité de triple faisceau, ...
Hitachi High-Technologies
Résolution spatiale: 2,1, 1,6 nm
... haute résolution afin de répondre aux demandes les plus récentes en matière d'analyse structurelle 3D et pour les analyses TEM et 3DAP. Le nouveau système FIB-SEM d'Hitachi, le NX9000, intègre une disposition optimisée ...
Hitachi High-Technologies
Résolution spatiale: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... préparation d'échantillons TEM à haut débit et de haute qualité pour les applications de pointe. * Option Caractéristiques La détection en temps réel du point final du MEB à haut contraste permet la préparation d'échantillons ...
Hitachi High-Technologies
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